Grenzpfadabtastung

Mit einer in der Hardware integrierten "JTAG-Kette" bietet ein "Boundary Scan" ein äußerst schnelles Verfahren zum Testen, Debuggen und Programmieren selbst der komplexesten digitalen Schaltkreise. JJS verfügt über umfassende Erfahrung bei der Bereitstellung und Durchführung verschiedener Boundary Scan-Lösungen, einschließlich der Verwendung von X-JTAG- und Goepel-Technologien.

"Boundary Scan"-Tests sind eine Innovation beim Testen von Platinen, die komplexe integrierte Schaltkreise enthalten; das Verfahren ermöglicht Tests und Diagnosen auf verschiedenen In-Circuit-Ebenen, wobei lediglich vom Platinenrand aus zugegriffen wird. Eine spezielle Bus-Technologie, die den meisten modernen Geräten eigen ist, setzt in effektiver Weise Tausende von Testpunkten für Komponenten und Verbindungen sowie zur Aufdeckung struktureller Fehlerpunkte, selbst unter BGAs, ohne dass in mechanischer Weise auf den Schaltkreis zugegriffen werden muss.

Wir bei JJS können unsere modernen Boundary Scan-Lösungen zur Verfügung stellen, um Ihre Entwicklung neuer Produkte zu beschleunigen und Ihre Markteinführungszeiten zu verkürzen. Die Entwicklung von Boundary Scan-Testprogrammen geschieht schnell und effizient, wodurch dieses Verfahren die ideale Lösung für Platinen ist, deren Entwurf noch revidiert werden soll oder muss. Boundary Scans können über den gesamten Platinenfertigungsprozess hinweg für die Entwurfsverifizierung, die In-System-Programmierung, Tests und Debugging eingesetzt werden.